dunesciences  C-SMART产品

Products | C-SMART^TM TEM Grids

作为我们不断致力于为客户提供用于纳米级表征的宜基材的长期承诺的一部分，沙丘全新的C-SMART功能化碳TEM网格现在使我们能够提供与SiO ₂和Si ₃ N ₄ SMART TEM网格相同的许多优势。，但熟悉用于许多低对比度应用（包括cryoEM，电子断层扫描和软材料）的碳涂层TEM栅格。

Dune Sciences正在申请专有技术的碳膜功能化化学和处理技术可实现准确，可重复和简单的样品制备。功能化的C-SMART表面可以捕获大量的纳米颗粒，病毒，抗体和其他分析物，对于低对比度样品特别有利。如果您的样品前处理策略不仅需要简单地捕获样品，还可以将双功能接头和免疫选择性修饰剂与C-SMART Grids配合使用，可以增强染色样品和CryoEM的目标分析物的成像性能。

C SMART网格是亲水性的，可以带正电荷或负电荷以及各种其他化学部分。功能化表面的保质期大于3个月。

B型：在400目Cu上的有孔碳上的3 nm碳膜。

类型A：在3.05毫米400目铜网格上的10纳米非晶碳膜。

如右图所示，当前有两个网格配置。此外，沙丘目前还提供C-SMART黄金网格，这些网格预先嵌入了5-10 nm的金纳米粒子基准标记物，用于电子断层扫描。有关不同表面的特定应用程序的更多信息，请参见我们的BioGrids页面。

C-SMART网格与传统碳网格和我们的SiO ₂ SMART网格的优势比较可在此处找到。